Najnowszymi urządzeniami do pomiaru wielkości cząstek są urządzenia wykorzystujące zjawisko dyfrakcji laserowej. Rozproszenie światła laserowego (dyfrakcja laserowa) jest dzisiaj najbardziej wydajną metodą do określania rozkładu uziarnienia w bardzo szerokim zakresie pomiarowym. Bardzo cenną zaletą tego typu urządzeń, oprócz dużej dokładności pomiarowej, jest bardzo szybki pomiar oraz jego całkowicie automatyczny przebieg. Jednym z urządzeń tego typu jest aparat Analysette 22 NanoTec firmy Fritsch, umożliwiający pomiar wielkości cząstki w zakresie 0,01µm-2000 µm, w trybie pomiaru na sucho i/lub w środowisku mokrym. Aparat ma dwa lasery półprzewodnikowe klasy I o długości fali 650 nm i mocy lasera 7 mW. Wszystkie elementy układu optycznego zostały umieszczone na pionowo usytuowanej szynie aluminiowej (rys. 1).
Głowice aparatu stosowane do pomiaru ziarnistości materiału wprowadzanego w zawiesinie oraz do pomiaru na sucho są montowane na oddzielnych prowadnicach szynowych. Urządzenie to, dzięki zastosowaniu rozwiązania polegającego na pomiarze światła rozproszonego od tyłu, umożliwia pokrycie szerokiego zakresu pasma pomiarowego „high end” i pomiar średnicy cząstek już od 10nm. Maksymalny zakres pomiarowy urządzenia wynosi od 0,01 µm do 2000µm.
Rys. 1. Widok ogólny laserowego miernika cząstek Analysette 22 NanoTec.